Atomic Force Microscopie (AFM)

Referentienummers

• Industriële microscopen
• ICSPI
• Microscoop, Meetapparatuur, Meetinstrument, Meetsysteem, Meettechniek, Meettechnologie

Samenstelling

Het Canadese ICSPI ontwikkelt instrumenten die gebruik maken van de AFM techniek voor beeldvorming op nanoschaal. Het betreft hier 3 basis systemen:

nGauge

Verzamel topografie-, morfologie-, filmdikte, ruwheids- en fase-data op nano-schaal in slechts 3 klikken. De “One-click” automatische benadering brengt de tip op het monster in seconden. De 3D-data op nano-schaal worden vervolgens bekomen binnen 2 minuten. 

Bezoek de website van ICSPI voor meer info

Vertex

De Vertex AFM maakt non-destructieve metrologie van zeer grote monster-oppervlakken op nano-schaal mogelijk. Dit toestel past altijd op het monster zonder dat u de grootte moet aanpassen. De Vertex is uiterst draagbaar en non-destructief.

Bezoek de website van ICSPI voor meer info

Redux

Automatische positionering, benadering en scan van uw monster in slechts één klik. Verzamel 3D beelden in slechts enkele seconden en muisklikken. De redux beschikt over een geïntegreerde camera en microscoop.

Bezoek de website van ICSPI voor meer info

Referenties

Contactgegevens

Benelux Scientific B.V.

Bonnetstraat 3
6718 XN  EDE

T: +31 (0) 85 081 11 00
E: info@benelux-scientific.nl     
I: www.benelux-scientific.nl